Das Suchergebnis hat sich seit Ihrer Suchanfrage verändert. Eventuell werden Dokumente in anderer Reihenfolge angezeigt.
  • Treffer 5 von 12
Zurück zur Trefferliste

Physical and Chemical Characterization of Thermal and Native Siliconoxide layers on Silicon

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:B. Güttler, D. Schiel, H. Danzebrink, Wolfgang UngerORCiD, Thomas Gross, Andreas Lippitz, J.-P. Müller
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Symposium "Reference Materials for Technologies in the New Millenium"
Jahr der Erstveröffentlichung:2000
Herausgeber (Institution):EUROLAB
Erste Seite:1(?)
Letzte Seite:7(?)
Veranstaltung:Symposium "Reference Materials for Technologies in the New Millenium"
Veranstaltungsort:Berlin, BAM, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2000-05-22
Enddatum der Veranstaltung:2000-05-23
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.