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Advanced light element and low energy X-ray analysis of ceramics and ceramic-metal joints using SEM/EDX with Silicon Drift Detectors (SDD)

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Autor*innen:T. Salge
Koautor*innen:Vasile-Dan Hodoroaba, O. Tunckan, R. Terborg, S. Turan
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):20th National Electron Microscopy Congress
Jahr der Erstveröffentlichung:2011
Veranstaltung:20th National Electron Microscopy Congress
Veranstaltungsort:Kemer, Turkey
Beginndatum der Veranstaltung:2011-10-25
Enddatum der Veranstaltung:2011-10-28
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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