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Advanced SEM/EDS analysis using an Annular Silicon Drift Detector (SDD): Applications in Nano, Life, Earth and Planetary Sciences below Micrometer Scale

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Autor*innen:T. Salge
Koautor*innen:R. Terborg, A. D. Ball, G. R. Broad, A. T. Kearsley, C. G. Jones, C. Smith, Steffi Rades, Vasile-Dan Hodoroaba
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):18th International Microscopy Congress
Jahr der Erstveröffentlichung:2014
Veranstaltung:18th International Microscopy Congress
Veranstaltungsort:Prague, Czech Republic
Beginndatum der Veranstaltung:2014-09-07
Enddatum der Veranstaltung:2014-09-12
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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