Advanced SEM/EDS analysis using an Annular Silicon Drift Detector (SDD): Applications in Nano, Life, Earth and Planetary Sciences below Micrometer Scale
Autor*innen: | T. Salge |
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Koautor*innen: | R. Terborg, A. D. Ball, G. R. Broad, A. T. Kearsley, C. G. Jones, C. Smith, Steffi Rades, Vasile-Dan Hodoroaba |
Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | 18th International Microscopy Congress |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2014 |
Veranstaltung: | 18th International Microscopy Congress |
Veranstaltungsort: | Prague, Czech Republic |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2014-09-07 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2014-09-12 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 20.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |