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Advanced SEM/EDX Analysis below Micrometre Scale using an Annular SDD: Applications in Nano, Life, Forensic, Cultural Heritage, Earth and Planetary Sciences

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Autor*innen:T. Salge
Koautor*innen:A. D. Ball, E. Bonato, G.R. Broad, C.G. Jones, X. Ma, C.L. Smith, P. J. Wozniakiewicz, A.T. Kearsley, Steffi Rades, L. S. Bell, M. Musat, H. Stryhanyuk, M. Falke, B. Hansen, R. Terborg, Vasile-Dan Hodoroaba
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Microscience Microscopy Congress (mmc 2015) incorporating EMAG 2015 (Institute of Physics's Electron Microscopy and Microanalysis Group)
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
Veranstaltung:Microscience Microscopy Congress (mmc 2015) incorporating EMAG 2015 (Institute of Physics's Electron Microscopy and Microanalysis Group)
Veranstaltungsort:Manchester, United Kingdom
Beginndatum der Veranstaltung:2015-06-29
Enddatum der Veranstaltung:2015-07-02
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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