• Treffer 8 von 9
Zurück zur Trefferliste

Kalibrierung unterschiedlicher 3D-Messmethoden mit einem vielseitig einsetzbaren Kalibrierobjekt

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Martin Ritter, Matthias Hemmleb, H. Hohenberg
Persönliche Herausgeber*innen:T. Luhmann
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Photogrammetrie - Laserscanning - optische 3D-Messtechnik
Jahr der Erstveröffentlichung:2005
Herausgeber (Institution):Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik, Oldenburg
Verlag:Wichmann
Verlagsort:Heidelberg
Jahrgang/Band:4
Erste Seite:66
Letzte Seite:73
Freie Schlagwörter:3D-Mikroskopie; AFM; CLSM; Kalibrierung; SEM
Veranstaltung:4. Oldenburger 3D-Tage
Veranstaltungsort:Oldenburg, Deutschland
Beginndatum der Veranstaltung:2005-02-02
Enddatum der Veranstaltung:2005-02-03
URL:http://www.m2c-calibration.com/veroeff/O3D2005_Ritter.pdf
ISBN:3-87907-420-8
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.