MetadatenAutor*innen: | Martin Ritter, T. Dziomba, M. Xu, L. Koenders, Axel KranzmannORCiD |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Sammelband |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | VDI-Berichte / "Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering", Tagung 29.- 30.11.2006 |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2006 |
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Herausgeber (Institution): | VDI |
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Ausgabe/Heft: | 1950 |
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Erste Seite: | 15 |
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Letzte Seite: | 24 |
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Freie Schlagwörter: | 3D Kalibrierung; Nanomarker; Rastermikroskopie |
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Veranstaltung: | Tagung "Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering" |
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Veranstaltungsort: | Erlangen, Deutschland |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 29.11.2006 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 30.11.2006 |
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ISBN: | 3-18-091950-7 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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