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Systematic analytics of non-linear deviations by established standards and a new generation of 3D standards

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Autoren/innen:Martin Ritter
Koautoren/innen:T. Dziomba, M. Xu, G. Dai, L. Koenders
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Nanoscale 2008
Jahr der Erstveröffentlichung:2008
Veranstaltung:Nanoscale 2008
Veranstaltungsort:Turin, Italy
Beginndatum der Veranstaltung:2008-09-22
Enddatum der Veranstaltung:2008-09-23
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein