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Time- and spatial-resolved X-ray absorption fine structure (XAFS) spectroscopy in a single-shot: new analytical possibilities for in situ material characterization

  • A new concept that comprises both time- and lateral-resolved X-ray absorption fine-structure information simultaneously in a single shot is presented. This uncomplicated set-up was tested at the BAMline at BESSY-II (Berlin, Germany). The primary broadband beam was generated by a double multilayer monochromator. The transmitted beam through the sample is diffracted by a convexly bent Si (111) crystal, producing a divergent beam. This, in turn, is collected by either an energy-sensitive area detector, the so-called color X-ray camera, or by an area-sensitive detector based on a CCD camera, in θ-2θ geometry. The first tests were performed with thin metal foils and some iron oxide mixtures. A time resolution of lower than 1 s together with a spatial resolution in one dimension of at least 50 µm is achieved.

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Autor*innen:Ana de Oliveira Guilherme BuzanichORCiD, Martin RadtkeORCiD, Uwe Reinholz, Heinrich Riesemeier, Franziska EmmerlingORCiD
Persönliche Herausgeber*innen:Ana de Oliveira Guilherme Buzanich
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Eigenverlag BAM
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Journal of Synchrotron Radiation
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Verlag:International Union of Crystallography
Jahrgang/Band:23
Erste Seite:769
Letzte Seite:776
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Divergent XAFS; Single-shot XAFS; Spatial resolution; Time resolution
DOI:10.1107/S1600577516003969
ISSN:1600-5775
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:21.11.2016
Referierte Publikation:Nein
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