Transmission electron microscopy study of rapid thermally annealed Pd/Ge contacts on IN0.53Ga0.47As
Autor*innen: | P. Ressel, Werner ÖsterleORCiD, Ingrid Urban, Ilona Dörfel, A. Klein, K. Vogel, H. Kräutle |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of applied physics |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1996 |
Verlag: | American Institute of Physics |
Verlagsort: | Melville, NY |
Jahrgang/Band: | 88 |
Erste Seite: | 3910 |
Letzte Seite: | 3914 |
ISSN: | 0021-8979 |
ISSN: | 1089-7550 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 19.05.2003 |