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Reliable Surface Analysis Data of Nanomaterials in Support of Risk Assessment Based on Minimum Information Requirements

  • The minimum information requirements needed to guarantee high-quality surface Analysis data of nanomaterials are described with the aim to provide reliable and traceable Information about size, shape, elemental composition and surface chemistry for risk assessment approaches. The widespread surface analysis methods electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and secondary ion mass spectrometry (SIMS) were considered. The complete analysis sequence from sample preparation, over measurements, to data analysis and data format for reporting and archiving is outlined. All selected methods are used in surface analysis since many years so that many aspects of the analysis (including (meta)data formats) are already standardized. As a practical analysis use case, two coated TiO2 reference nanoparticulate samples, which are available on the Joint Research Centre (JRC) repository, were selected. The added value of theThe minimum information requirements needed to guarantee high-quality surface Analysis data of nanomaterials are described with the aim to provide reliable and traceable Information about size, shape, elemental composition and surface chemistry for risk assessment approaches. The widespread surface analysis methods electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and secondary ion mass spectrometry (SIMS) were considered. The complete analysis sequence from sample preparation, over measurements, to data analysis and data format for reporting and archiving is outlined. All selected methods are used in surface analysis since many years so that many aspects of the analysis (including (meta)data formats) are already standardized. As a practical analysis use case, two coated TiO2 reference nanoparticulate samples, which are available on the Joint Research Centre (JRC) repository, were selected. The added value of the complementary analysis is highlighted based on the minimum information requirements, which are well-defined for the analysis methods selected. The present paper is supposed to serve primarily as a source of understanding of the high standardization level already available for the high-quality data in surface analysis of nanomaterials as reliable input for the nanosafety community.zeige mehrzeige weniger

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Autor*innen:Jörg RadnikORCiD, R. Kersting, B. Hagenhoff, Francesca Bennet, Dmitri CiorniiORCiD, P. Nymark, R. Grafström, Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):nanomaterials
Jahr der Erstveröffentlichung:2021
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
Veröffentlichende Institution:Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Verlag:MDPI
Jahrgang/Band:11
Ausgabe/Heft:3
Erste Seite:639
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Electron microscopy; Energy dispersive X-ray spectroscopy; Secondary ion mass spectrometry; Standardization; X-ray photoelectron spectroscopy
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Material
Material / Nano
DOI:10.3390/nano11030639
URN:urn:nbn:de:kobv:b43-522683
Zugehöriger Identifikator:https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/52833
Zugehöriger Identifikator:https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/52836
Zugehöriger Identifikator:https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/52880
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - CC BY - Namensnennung 4.0 International
Datum der Freischaltung:15.03.2021
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:12.04.2021
Schriftenreihen ohne Nummerierung:Wissenschaftliche Artikel der BAM
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