Elemental composition of an ionic liquid surface
- (1) First results show the suitability of IL as reference for quantification of XPS (at least for organic materials). (2) Different quantification methods lead to similar results (with a slight advantage for “background method”). (3)Promising reference material for a better understanding and traceable protocols for the quantification of organic materials with XPS.
Autor*innen: | Jörg RadnikORCiD |
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Koautor*innen: | B. Reed, A. Shard |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2021 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Ionic liquid; Quantification; X-ray photoelectron spectroscopy |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Veranstaltung: | BIPM / SAWG Spring Meeting |
Veranstaltungsort: | Online meeting |
Beginndatum der Veranstaltung: | 12.05.2021 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 31.05.2021 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |