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Investigation of silica nanoparticles by Auger electron spectroscopy (AES)

  • High-priority industrial nanomaterials like SiO2, TiO2, and Ag are being characterized on a systematic basis within the framework of the EU FP7 research project NanoValid. Silica nanoparticles from an industrial source have been analyzed by Auger electron spectroscopy. Point, line, and map spectra were collected. Material specific and methodological aspects causing the special course of Auger line scan signals will be discussed.

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Metadaten
Autor*innen:Steffi Rades, Thomas Wirth, Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Surface and interface analysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2014
Verlag:Wiley
Verlagsort:Chichester
Jahrgang/Band:46
Ausgabe/Heft:10-11
Erste Seite:952
Letzte Seite:956
Freie Schlagwörter:Auger electron spectroscopy; Nanoparticles; Surface analysis
DOI:10.1002/sia.5378
ISSN:0142-2421
ISSN:1096-9918
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:13.10.2014
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