Measuring SPM Piezo Displacement Responses
Autor*innen: | Heinz SturmORCiD, M. Heyde, K. Rademann |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Microscopy today |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1999 |
Verlag: | Microscopy Society of America |
Verlagsort: | Wappingers Falls, NY |
Jahrgang/Band: | 99 |
Ausgabe/Heft: | 4 |
Erste Seite: | 24 |
Letzte Seite: | 26 |
ISSN: | 1551-9295 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |