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New application for the calibration of scanning probe microscopy piezos

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Metadaten
Autor*innen:M. Heyde, Heinz SturmORCiD, K. Rademann
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Surface and interface analysis
Jahr der Erstveröffentlichung:1999
Verlag:Wiley
Verlagsort:Chichester
Jahrgang/Band:27
Ausgabe/Heft:5-6
Erste Seite:291
Letzte Seite:295
Freie Schlagwörter:Calibration; Force-Microscopy; Height Calibration; Piezoelectric translator; Scanning probe microscope
ISSN:0142-2421
ISSN:1096-9918
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:07.02.2005
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