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A microfocus X-ray source for improved EDS and XRF analysis in the SEM

  • A microfocus X-ray source mounted on the analysis chamber of an SEM was used to excite X-ray fluorescence spectra and to detect chemical elements with concentrations below the detection limit of the electron-excited X-ray spectra conventionally measured with SEM/EDS. An aluminium alloy and a hard material ceramics were analysed as representative examples. It is demonstrated that the combination of the three analytical methods: (1) SEM imaging for surface morphology characterisation; (2) electron-excited X-ray spectroscopy with its high spatial resolution for element analysis of inclusions or precipitates; and (3) X-ray fluorescence for the detection of elements with concentrations below 0.1 mass% considerably improves the performance of SEM/EDX analyses.

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Metadaten
Autor*innen:Mathias ProcopORCiD, Vasile-Dan HodoroabaORCiD, Vanessa Rackwitz
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and analysis / European edition
Jahr der Erstveröffentlichung:2011
Verlag:Wiley
Verlagsort:Chichester
Jahrgang/Band:25
Ausgabe/Heft:4
Erste Seite:11
Letzte Seite:13
Freie Schlagwörter:Energy-dispersive X-ray spectroscopy; Materials science; Micro-XRF; Microanalysis; Scanning electron microscopy; X-ray fluorescence
ISSN:2043-0655
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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