MetadatenAutor*innen: | Vasile-Dan HodoroabaORCiD, Vanessa Rackwitz |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Microscopy and microanalysis |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2012 |
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Herausgeber (Institution): | Microscopy Society of America |
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Verlag: | Cambridge University Press |
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Verlagsort: | New York, NY |
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Jahrgang/Band: | 18 |
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Ausgabe/Heft: | Suppl. 2 |
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Erste Seite: | 942 |
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Letzte Seite: | 943 |
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Freie Schlagwörter: | Limits of detection; Modelling; Peak-to-background; Peak-to-noise; X-ray scattering; XRF |
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DOI: | 10.1017/S1431927612006563 |
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ISSN: | 1431-9276 |
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ISSN: | 1435-8115 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Ja |
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Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 22.10.2012 |
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