X-ray scattering and its benefits for X-ray spectrometry at the SEM
Autor*innen: | Vasile-Dan HodoroabaORCiD, Vanessa Rackwitz, Dirk Reuter |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Microscopy and microanalysis |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2009 |
Herausgeber (Institution): | Microscopy Society of America |
Verlag: | Cambridge University Press |
Verlagsort: | New York, NY |
Jahrgang/Band: | 15 |
Ausgabe/Heft: | Suppl. 2 |
Erste Seite: | 1122 |
Letzte Seite: | 1123 |
DOI: | 10.1017/S1431927609094392 |
ISSN: | 1431-9276 |
ISSN: | 1435-8115 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 01.09.2009 |