• Treffer 2 von 2
Zurück zur Trefferliste

Determination of the efficiency of an energy dispersive X-ray spectrometer up to 50 keV with a SEM

  • Both electron and polychromatic photon excitations (micro-focus X-ray source) at a scanning electron microscope (SEM) are used to determine the efficiency of an energy dispersive X-ray spectrometer up to 50 keV by means of a calibrated X-ray spectrometer and reference materials (RM) specially selected for this purpose.

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Vanessa Rackwitz, A. Warrikhoff, Ulrich PanneORCiD, Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Journal of analytical atomic spectrometry
Jahr der Erstveröffentlichung:2009
Verlag:Royal Society of Chemistry
Verlagsort:London
Jahrgang/Band:24
Erste Seite:1034
Letzte Seite:1036
Freie Schlagwörter:Calibration; Detector efficiency; EDS; EDS-TM001; SEM; Scattering; XRF
DOI:10.1039/b907815k
ISSN:0267-9477
ISSN:1364-5544
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:28.07.2009
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.