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Determination of emitted X-ray tube spectra by means of a calibrated instrumental setup

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Autor*innen:Vanessa Rackwitz, A. Warrikhoff, Ulrich PanneORCiD, Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2010
Herausgeber (Institution):Microscopy Society of America
Verlag:Cambridge University Press
Verlagsort:New York, NY
Jahrgang/Band:16
Ausgabe/Heft:Supplement S2
Erste Seite:930
Letzte Seite:931
Freie Schlagwörter:EDS; SEM; Spectrometer efficiency; X-ray tube spectrum; XRF
DOI:10.1017/S1431927610054292
ISSN:1431-9276
ISSN:1435-8115
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:25.11.2010
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