Estimation of Absorbing Layer Thickness for an Si(Li) Detector
MetadatenAutor*innen: | Mathias ProcopORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | X-ray spectrometry |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 1999 |
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Verlag: | Wiley |
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Verlagsort: | Chichester |
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Ausgabe/Heft: | 28 |
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Erste Seite: | 33 |
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Letzte Seite: | 40 |
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ISSN: | 0049-8246 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Ja |
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Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 28.07.2000 |
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