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Estimation of Absorbing Layer Thickness for an Si(Li) Detector

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Metadaten
Autor*innen:Mathias ProcopORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):X-ray spectrometry
Jahr der Erstveröffentlichung:1999
Verlag:Wiley
Verlagsort:Chichester
Ausgabe/Heft:28
Erste Seite:33
Letzte Seite:40
ISSN:0049-8246
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:28.07.2000
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