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A new material for the performance check of X-ray spectrometers attached to a SEM

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Autor*innen:Mathias ProcopORCiD, Vasile-Dan HodoroabaORCiD, Michael Griepentrog
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2006
Herausgeber (Institution):Microscopy Society of America
Verlag:Cambridge University Press
Verlagsort:New York, NY
Jahrgang/Band:12
Ausgabe/Heft:Supplement 2
Erste Seite:870
Letzte Seite:871
Freie Schlagwörter:Calibration; EDS; WDS; X-ray spectrometer
Veranstaltung:Microscopy and Microanalysis 2006
Veranstaltungsort:Chicago, IL, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2006-07-30
Enddatum der Veranstaltung:2006-08-03
DOI:10.1017/S1431927606061307
ISSN:1431-9276
ISSN:1435-8115
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:31.08.2006
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