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Optical emission spectroscopy as monitoring tool for ded

  • This presentstion explains how optical emission spectroscopy can be exploited to on line monitor a DED printing production. This technique is tested printing on a substrate with artificial defects.

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  • 20201210 - Pignatelli.pdf
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Autor*innen:Giuseppe Pignatelli
Koautor*innen:Anne Strasse, Igor B. Gornushkin, Simon Altenburg, Nils Scheuschner
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2020
Organisationseinheit der BAM:1 Analytische Chemie; Referenzmaterialien
1 Analytische Chemie; Referenzmaterialien / 1.9 Chemische und optische Sensorik
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Additive manufacturing; Analytical chemistry; Monitoring; Spectroscopy
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Umwelt
Umwelt / Sensorik
Veranstaltung:1st Workshop on In-situ Monitoring and Microstructure Development in Additive Manufacturing
Veranstaltungsort:Online meeting
Beginndatum der Veranstaltung:10.12.2020
Enddatum der Veranstaltung:10.12.2020
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:28.12.2020
Referierte Publikation:Nein
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