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High-Resolution Nondestructive Test Probes Based on Magnetoresistive

  • This paper discloses two high-sensitivity probes for Eddy Current Nondestructive Test (NDT) of buried and surface defects. These probes incorporate eight and 32 magnetoresistive sensors, respectively, which are optimized for high sensitivity and spatial resolution. The signal processing and interfacing are carried out by a full-custom application-specific integrated circuit (ASIC). The ASIC signal chain performs with a thermal input-referred noise of 30 nV/√Hz at 1 kHz, with 66 mW of power consumption, in a die with 3.7 × 3.4 mm 2 . NDT results are presented, showing that there is an increase in spatial resolution of surface defects when contrasted to prior art, enabling the probes to resolve defects with diameters of 0.44 mm, pitches of 0.6 mm, and minimum edge distance as low as 0.16 mm. The results also show that the probe for buried defects is a good all-round tool for detection of defects under cladding and multiple-plate flat junctions.

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Autor*innen:D. M. Caetano, T. Rabuske, J. Fernandes, Matthias Pelkner, C. Fermon, S. Cardoso, B. Ribes, F. Franco, J. Paul, M. Piedade, P. P. Freitas
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):IEEE Transaction on Industrial Electronics
Jahr der Erstveröffentlichung:2019
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.4 Akustische und elektromagnetische Verfahren
Verlag:IEEE
Jahrgang/Band:66
Ausgabe/Heft:9
Erste Seite:7326
Letzte Seite:7337
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:ASIC; Eddy current testing; High resolution; Magnetoresistive sensor; Nondestructive testing
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
DOI:10.1109/TIE.2018.2879306
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:20.06.2019
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:20.06.2019
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