Determination of the efficiency of an energy dispersive X-ray spectrometer up to 50 keV with a SEM
- Both electron and polychromatic photon excitations (micro-focus X-ray source) at a scanning electron microscope (SEM) are used to determine the efficiency of an energy dispersive X-ray spectrometer up to 50 keV by means of a calibrated X-ray spectrometer and reference materials (RM) specially selected for this purpose.
Autor*innen: | Vanessa Rackwitz, A. Warrikhoff, Ulrich PanneORCiD, Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of analytical atomic spectrometry |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2009 |
Verlag: | Royal Society of Chemistry |
Verlagsort: | London |
Jahrgang/Band: | 24 |
Erste Seite: | 1034 |
Letzte Seite: | 1036 |
Freie Schlagwörter: | Calibration; Detector efficiency; EDS; EDS-TM001; SEM; Scattering; XRF |
DOI: | 10.1039/b907815k |
ISSN: | 0267-9477 |
ISSN: | 1364-5544 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 28.07.2009 |