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Pathway of a damaging mechanism - Analyzing chloride attack by synchrotron based X-ray diffraction

  • Typically, the changes of the phase compositions due to the chemical attack are studied in-situ only by chemical analysis or microscopy. In this study, the chloride transport and binding in the cement matrix in different cementitious materials was analyzed by synchrotron based X-ray diffraction (SyXRD) and energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX). Sample materials consisting of cement paste were embedded in high concentrated sodium chloride solution over different time spans. Afterwards, the phase and chemical compositions were determined. The high spatial resolution and the information about the chloride distribution offer a detailed view of chloride binding in the cement matrix and allow the conclusions about the degradation mechanisms. The results are discussed related to the influence of different supplementary cementitious materials on the damaging mechanism.

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  • Schlegel_1-s2.0-S129325581500076X-main.pdf
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Autor*innen:M.C. Schlegel, Julia StrohORCiD, K. Malaga, Birgit MengORCiD, Ulrich PanneORCiD, Franziska EmmerlingORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Solid state sciences
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
Verlag:Elsevier Masson SAS
Verlagsort:Amsterdam
Jahrgang/Band:44
Erste Seite:45
Letzte Seite:54
Freie Schlagwörter:Chloride attack; Durability; EDX; In-situ; Portland cement; X-Ray diffraction
DOI:10.1016/j.solidstatesciences.2015.03.021
ISSN:1293-2558
ISSN:1873-3085
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:11.05.2015
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