MetadatenAutor*innen: | Erik Ortel, R. Kraehnert, F. Galbert, Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Microscopy and microanalysis |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2015 |
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Herausgeber (Institution): | Microscopy Society of America |
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Verlag: | Cambridge University Press |
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Verlagsort: | New York, NY |
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Jahrgang/Band: | 21 |
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Ausgabe/Heft: | Suppl. 3 |
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Erste Seite: | Paper 0852, 1707 |
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Letzte Seite: | 1708 |
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Freie Schlagwörter: | EDX; Porosity; SEM; Stratagem; Thin film; WDX |
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DOI: | 10.1017/S1431927615009319 |
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ISSN: | 1431-9276 |
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ISSN: | 1435-8115 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
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Datum der Freischaltung: | 20.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Ja |
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Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 17.09.2015 |
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