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SEM/EDX for the Determination of Thin Film Porosity: Application to mesoporous TiO2 layers

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Autor*innen:Erik Ortel
Koautor*innen:Vasile-Dan Hodoroaba, R. Kraehnert, Francois Galbert
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):MC2015
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
Veranstaltung:MC2015
Veranstaltungsort:Göttingen
Beginndatum der Veranstaltung:2015-09-06
Enddatum der Veranstaltung:2015-09-11
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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