Determination of Thin Film Porosity by SEM/EDX: Application to mesoporous TiO2 layers
Autor*innen: | Erik Ortel |
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Koautor*innen: | Vasile-Dan Hodoroaba, R. Kraehnert, Francois Galbert |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | International summer workshop "Nanoscience meets Metrology" |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2015 |
Veranstaltung: | International summer workshop "Nanoscience meets Metrology" |
Veranstaltungsort: | Erice (Sicily) Italy |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2015-07-27 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2015-07-31 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 20.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |