Das Suchergebnis hat sich seit Ihrer Suchanfrage verändert. Eventuell werden Dokumente in anderer Reihenfolge angezeigt.
  • Treffer 5 von 44
Zurück zur Trefferliste

Determination of Thin Film Porosity by SEM/EDX: Application to mesoporous TiO2 layers

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Erik Ortel
Koautor*innen:Vasile-Dan Hodoroaba, R. Kraehnert, Francois Galbert
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):International summer workshop "Nanoscience meets Metrology"
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
Veranstaltung:International summer workshop "Nanoscience meets Metrology"
Veranstaltungsort:Erice (Sicily) Italy
Beginndatum der Veranstaltung:2015-07-27
Enddatum der Veranstaltung:2015-07-31
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.