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Charakterisierung von TiO2-Nanopartikeln mit kontrollierter Form mittels Rasterelektronenmikroskopie (SEM und TSEM)

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Metadaten
Autor*innen:Erik Ortel
Koautor*innen:Vasile-Dan Hodoroaba
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Methoden zur Präparation von Partikeln auf Substraten und Strategien zur Messung mit Elektronenmikroskopie (SEM) und Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Jahr der Erstveröffentlichung:2014
Veranstaltung:Methoden zur Präparation von Partikeln auf Substraten und Strategien zur Messung mit Elektronenmikroskopie (SEM) und Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2014-07-07
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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