Charakterisierung von TiO2-Nanopartikeln mit kontrollierter Form mittels Rasterelektronenmikroskopie (SEM und TSEM)
Autor*innen: | Erik Ortel |
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Koautor*innen: | Vasile-Dan Hodoroaba |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Methoden zur Präparation von Partikeln auf Substraten und Strategien zur Messung mit Elektronenmikroskopie (SEM) und Rasterkraftmikroskopie (AFM) |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2014 |
Veranstaltung: | Methoden zur Präparation von Partikeln auf Substraten und Strategien zur Messung mit Elektronenmikroskopie (SEM) und Rasterkraftmikroskopie (AFM) |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2014-07-07 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 20.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |