On the use of harmonically modulated lateral force microscopy (HM-LFM) and force modulation microscopy (FMM) for the study of reinforced polymers
Autor*innen: | Martin Munz |
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Koautor*innen: | Eckhard Schulz, Heinz Sturm |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | 4th International Conference on the Development and Technical Application of Scanning Probe Methods (SXM4) |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2000 |
Veranstaltung: | 4th International Conference on the Development and Technical Application of Scanning Probe Methods (SXM4) |
Veranstaltungsort: | Münster, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2000-09-26 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |