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XPS depth profiling of an ultrathin bioorganic film with an argon gas cluster ion beam

  • The growing interest in artificial bioorganic Interfaces as a platform for applications in emerging Areas as personalized medicine, clinical diagnostics, biosensing, biofilms, prevention of biofouling, and other fields of bioengineering is the origin of a need for in Detail multitechnique characterizations of such layers and interfaces. The in-depth analysis of biointerfaces is of special interest as the properties of functional bioorganic coatings can be dramatically affected by in-depth variations of composition. In worst cases, the functionality of a device produced using such coatings can be substantially reduced or even fully lost.

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  • Dietrich_et_al - XPS depth profiling of an ultrathin bioorganic film with an argon gas cluster ion beam.pdf
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Autor*innen:Paul Dietrich, Carolin Nietzold, Matthias Weise, Wolfgang UngerORCiD, Saad Alnabulsi, John Moulder
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Biointerphases
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Herausgeber (Institution):AVS: Science & Technology of Materials, Interfaces, and Processing
Verlag:American Vacuum Society
Verlagsort:New York
Jahrgang/Band:11
Ausgabe/Heft:2
Erste Seite:029603-1
Letzte Seite:029603-5
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Ar gas cluster gun; Bioorganic film; Depth profiling; XPS
DOI:10.1116/1.4948341
URL:http://scitation.aip.org/content/avs/journal/bip/11/2/10.1116/1.4948341
ISSN:1934-8630
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:25.05.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:05.08.2016
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