Geometrische Charakterisierung von Fehlstellen mittels lokal angeregter aktiver Thermografie / Characterizing geometrical parameters of voids with locally excited active thermography
Autor*innen: | Joachim Schlichting, Guram N. Kervalishvili, Christiane MaierhoferORCiD, Marc Kreutzbruck |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Tagungsband |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Sensoren und Messsysteme 2010 - 15. ITG/GMA-Fachtagung |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2010 |
Verlag: | VDE Verlag GmbH |
Verlagsort: | Berlin, Offenbach |
Ausgabe/Heft: | Paper 120 |
Erste Seite: | 682 |
Letzte Seite: | 687 |
Veranstaltung: | Sensoren und Messsysteme 2010 - 15. ITG/GMA-Fachtagung |
Veranstaltungsort: | Nürnberg, Deutschland |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2010-05-18 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2010-05-19 |
ISBN: | 978-3-8007-3260-9 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |