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Geometrische Charakterisierung von Fehlstellen mittels lokal angeregter aktiver Thermografie / Characterizing geometrical parameters of voids with locally excited active thermography

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Autor*innen:Joachim Schlichting, Guram N. Kervalishvili, Christiane MaierhoferORCiD, Marc Kreutzbruck
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Sensoren und Messsysteme 2010 - 15. ITG/GMA-Fachtagung
Jahr der Erstveröffentlichung:2010
Verlag:VDE Verlag GmbH
Verlagsort:Berlin, Offenbach
Ausgabe/Heft:Paper 120
Erste Seite:682
Letzte Seite:687
Veranstaltung:Sensoren und Messsysteme 2010 - 15. ITG/GMA-Fachtagung
Veranstaltungsort:Nürnberg, Deutschland
Beginndatum der Veranstaltung:2010-05-18
Enddatum der Veranstaltung:2010-05-19
ISBN:978-3-8007-3260-9
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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