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Advanced analysis of spherical SiO2 aerosol nanoparticles with a high-resolution SEM

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Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD, Sigrid Benemann, C. Motzkus, T. Macé, P. Palmas, S. Vaslin-Reimann
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2012
Herausgeber (Institution):Microscopy Society of America
Verlag:Cambridge University Press
Verlagsort:New York, NY
Jahrgang/Band:18
Ausgabe/Heft:Suppl. 2
Erste Seite:1750
Letzte Seite:1751
Freie Schlagwörter:SEM; SiO2; Spherical nanoparticles; Transmission-SEM; VAMAS
DOI:10.1017/S1431927612010604
ISSN:1431-9276
ISSN:1435-8115
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:22.10.2012
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