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X-ray refraction topography for non-destructive evaluation of advanced materials

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Autor*innen:Bernd R. MüllerORCiD, Manfred P. Hentschel, Karl-Wolfram Harbich, Axel Lange, Jörg Schors
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics
Jahr der Erstveröffentlichung:2000
Verlag:NDT.net
Verlagsort:Kirchwald
Jahrgang/Band:5
Ausgabe/Heft:11
Erste Seite:1
Letzte Seite:7(?)
Freie Schlagwörter:X-ray refraction
Veranstaltung:15th World Conference on Non-Destructive Testing (WCNDT)
Veranstaltungsort:Roma, Italy
Beginndatum der Veranstaltung:2000-10-15
Enddatum der Veranstaltung:2000-10-21
URL:http://www.ndt.net/article/wcndt00/papers/idn257/idn257.htm
ISSN:1435-4934
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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