X-ray refraction topography for non-destructive evaluation of advanced materials
Autor*innen: | Bernd R. MüllerORCiD, Manfred P. Hentschel, Karl-Wolfram Harbich, Axel Lange, Jörg Schors |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Graue Literatur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2000 |
Verlag: | NDT.net |
Verlagsort: | Kirchwald |
Jahrgang/Band: | 5 |
Ausgabe/Heft: | 11 |
Erste Seite: | 1 |
Letzte Seite: | 7(?) |
Freie Schlagwörter: | X-ray refraction |
Veranstaltung: | 15th World Conference on Non-Destructive Testing (WCNDT) |
Veranstaltungsort: | Roma, Italy |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2000-10-15 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2000-10-21 |
URL: | http://www.ndt.net/article/wcndt00/papers/idn257/idn257.htm |
ISSN: | 1435-4934 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |