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Nachweis der Schädigungsentwicklung mittels Synchrotron-Röntgenrefraktionstechnik während des Kriechversuchs einer Al-Mg-Legierung

  • Um die Gültigkeit der Vorhersagen des aktuellen Solid-State-Transformation-Creep (SSTC)-Modells zu verifizieren, wurde die Schadensakkumulation während eines Kriecheversuchs an einer Al-3,85Mg Legierung mittels Synchrotron Röntgenrefraktionstechnik untersucht. Das Röntgenrefraktionsverfahren erfasst die innere spezifische Oberfläche (d.h. Oberfläche pro Volumeneinheit) im durchstrahlten Volumen. Dabei liegt die Detektierbarkeit von Rissen und Poren in der Größenordnung von wenigen Nano- bis Mikrometern. Im Vergleich zu CT-Messungen mit vergleichbarer Sensitivität ist das untersuchte Probenvolumen jedoch um den Faktor 10 größer. Ein signifikanter Anstieg der inneren spezifischen Oberfläche mit zunehmender Kriechzeit wurde beobachtet, was den Nachweis für die Entstehung einer feinkörnigen Substruktur liefert, wie sie im SSTC-Modell vorhergesagt wird. Diese feinkörnige Substruktur wurde auch mittels Rasterelektronenmikroskopie beobachtet.

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  • DACH_2019 creep AlMg SXRR.pdf
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Autor*innen:Bernd R. MüllerORCiD
Koautor*innen:S. Cabeza, R. Pereyra, R. Fernández, G. González-Doncelc, Andreas Kupsch, Giovanni Bruno
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Jahr der Erstveröffentlichung:2019
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Aluminiumlegierungen; Kriechverhalten; Schädigungsverhalten; Synchrotron Röntgen Refraktion
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Degradation von Werkstoffen
Veranstaltung:DACH-Tagung 2019
Veranstaltungsort:Friedrichshafen, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:26.05.2019
Enddatum der Veranstaltung:29.05.2019
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:18.07.2019
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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