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Precision Measurement of Complex Permittivity of Solid Dielectric Materials

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Autor*innen:Thomas Hübert, Andreas Lorek, Ulrich Banach, S. Zinal, G. Boeck
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings of the TEST 2003
Jahr der Erstveröffentlichung:2003
Herausgeber (Institution):AMA, Fachverband für Sensorik
Verlag:AMA Service GmbH
Verlagsort:Wunstorf
Erste Seite:89
Letzte Seite:94
Veranstaltung:International Conference on Materials Testing ; TEST Kongress ; TEST Conference
Veranstaltungsort:Nuremberg, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2003-05-13
Enddatum der Veranstaltung:2003-05-15
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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