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Results of a VAMAS TWA 2 inter-laboratory test experimen - Evaluation of static charge stabilization and determination methods in XPS on non-conducting samples

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Autor*innen:Wolfgang UngerORCiD, Olaf Böse, Thomas Gross, Andreas Lippitz, U. Gelius
Persönliche Herausgeber*innen:H. Boehlig
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Proceedings of the 11th Conference on Applied Surface Analysis (Applied surface science 179.2001,1)
Jahr der Erstveröffentlichung:2000
Verlag:Elsevier
Verlagsort:Amsterdam
Jahrgang/Band:179
Ausgabe/Heft:1
Veranstaltung:11th Conference on Applied Surface Analysis (AOFA)
Veranstaltungsort:Leipzig, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2000-09-24
Enddatum der Veranstaltung:2000-09-28
ISSN:0169-4332
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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