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Distinguishing characteristic defect in additively manufactured Ti-Al6-V4 with synchrotron X-ray refraction radiography

  • Synchrotron X-ray refraction radiography (SXRR) is proven to identify different kinds of defects in Ti-Al6-V4 samples produces by selective laser melting. Namely, these defect types are empty pores and unprocessed powder, which are characteristic to the regions above and below the optimal laser energy density, respectively. Furthermore, SXRR detects small defects below the spatial resolution.

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Autor*innen:René LaquaiORCiD
Koautor*innen:Bernd R. Müller, G. Kasperovich, J. Haubrich, G. Requena, Giovanni Bruno
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2017
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Additive manufacturing; Porosity; X-ray refraction
Veranstaltung:BESSY User Meeting
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:13.12.2017
Enddatum der Veranstaltung:15.12.2017
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:15.12.2017
Referierte Publikation:Nein
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