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Mehr-Proben-Konzept zum Kleben und Prüfen: Validierung von Klebverbunden im OKTETT

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Autor*innen:Uwe Beck, Stefan Hielscher, Thorid Lange, Matthias Weise, Kai Kittler-Packmor, U. Rietz, D. Lerche, A. Pfuch
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):10. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik mit 4. Optik-Kolloquium (Proceedings)
Jahr der Erstveröffentlichung:2014
Erste Seite:BA04, 1
Letzte Seite:2
Freie Schlagwörter:Haftfestigkeit; Klebfestigkeit; Mehr-Proben-Prüfen/Kleben; Zentrifugentechnologie
Veranstaltung:10. ThGOT Thementage Grenz- und Oberflächentechnik mit 4. Optik-Kolloquium
Veranstaltungsort:Leipzig, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2014-09-02
Enddatum der Veranstaltung:2014-09-04
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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