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Straightforward Correction of X-Ray Detector Backlighting

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Autor*innen:Axel Lange
Koautor*innen:Andreas Kupsch, Manfred P. Hentschel, Bernd R. Müller
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):18th World Conference on Nondestructive Testing
Jahr der Erstveröffentlichung:2012
Veranstaltung:18th World Conference on Nondestructive Testing
Veranstaltungsort:Durban, South Africa
Beginndatum der Veranstaltung:2012-04-16
Enddatum der Veranstaltung:2012-04-20
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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