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Time- and lateral-resolved X-ray absorption fine structure spectroscopy

  • We developed a setup for time- and lateral-resolved X-ray absorption fine structure (XAFS) spectroscopy. A dispersive element is placed behind the sample to investigate. The broadband incoming beam transmits the sample, is then dispersed and finally collected by a position sensitive detector. This allows the recording of a whole X-ray absorption near edge structure (XANES) or extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) spectrum in a single shot. The dispersive element is a Si(111) crystal, bent by means of a so called wafer bender, developed in house. Our setup is very flexible, easy to adjust and allows a time resolution down to one second which can be used to follow chemical reactions with dynamics on this time scale.

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Metadaten
Autoren/innen:Anicó Kulow
Koautoren/innen:Ana Guilherme Buzanich, Uwe Reinholz, Martin Radtke, Heinrich Riesemeier, C. Streli
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2019
Organisationseinheit der BAM:1 Analytische Chemie; Referenzmaterialien
1 Analytische Chemie; Referenzmaterialien / 1.3 Strukturanalytik
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Absorption; Spectroscopy; Synchrotron; X-ray
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Analytical Sciences
Analytical Sciences / Zerstörungsfreie Prüfung und Spektroskopie
Veranstaltung:SXR2019
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:16.09.2019
Enddatum der Veranstaltung:20.09.2019
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:23.09.2019
Referierte Publikation:Nein