Geometrische Charakterisierung von Fehlstellen mittels lokal angeregter aktiver Thermografie
- In diesem Beitrag wird eine Methode zur Charakterisierung von offenen Oberflächenrissen mittels aktiver Thermografie präsentiert. Hierzu wird die Probe ortsfest lokal mit einem Laser erwärmt und die resultierende Oberflächentemperatur mittels Infrarotkamera aufgenommen. Bei einer ungestörten Probe ergibt sich ein rotationssymmetrisches Temperaturprofil. Betrachtet man hingegen einen Bereich mit einem Oberflächenriss, so kommt es durch die Störung des lateralen Wärmetransports zu einer unsymmetrischen Temperaturverteilung. Durch die quantitative Analyse diese Unsymmetrie lassen sich Aussagen über geometrische Parameter des Risses treffen.
Autor*innen: | Joachim Schlichting, Guram N. Kervalishvili, Christiane MaierhoferORCiD, Marc Kreutzbruck |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Tagungsband |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | DGZfP-Jahrestagung 2010 |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2010 |
Herausgeber (Institution): | Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V. (DGZfP) |
Verlagsort: | Berlin |
Ausgabe/Heft: | DGZfP-BB 122 (Mi.1.C.2) |
Erste Seite: | 1 |
Letzte Seite: | 8 |
Veranstaltung: | DGZfP-Jahrestagung 2010 |
Veranstaltungsort: | Erfurt, Deutschland |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2010-05-10 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2010-05-12 |
ISBN: | 978-3-940283-26-9 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |