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Thin film porosity determined by X-rays at SEM

  • Various applications such as automotive catalysts, photocatalysis and sensors rely on thin coatings with high active surface area. The development of new and improved coatings requires in-depth understanding of the film morphology and texture. Especially the film porosity is a key parameter to identify structure-property relationships in applications. However, an accurate porosity determination of thin porous coatings is a challenging. In this contribution we present and discuss a new approach for determining the porosity of films by x-rays at SEM.

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  • thin_film_porosity_determined_by_xrays_at_sem.pdf
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Autor*innen:Erik Ortel, R. Kraehnert, F. Galbert, Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
Herausgeber (Institution):Microscopy Society of America
Verlag:Cambridge University Press
Verlagsort:New York, NY
Jahrgang/Band:21
Ausgabe/Heft:Suppl. 3
Erste Seite:Paper 0852, 1707
Letzte Seite:1708
Freie Schlagwörter:EDX; Porosity; SEM; Stratagem; Thin film; WDX
DOI:10.1017/S1431927615009319
ISSN:1431-9276
ISSN:1435-8115
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:17.09.2015
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