Analysis of highly resolved x-ray photoelectron Cr 2p spectra obtained with a Cr2O3 powder sample prepared with adhesive tape
Autor*innen: | Ercan Ünveren, E. Kemnitz, S. Hutton, Andreas Lippitz, Wolfgang UngerORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Surface and interface analysis |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2004 |
Verlag: | Wiley |
Verlagsort: | Chichester |
Jahrgang/Band: | 36 |
Erste Seite: | 92 |
Letzte Seite: | 95 |
Freie Schlagwörter: | Cr2O3 powder; High-resolution XPS; Multiplet splitting |
ISSN: | 0142-2421 |
ISSN: | 1096-9918 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 25.03.2004 |