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High Speed, High Resolution imaging spectrometers based on pnCCDs for XRF and XRD applications

  • For many years pnCCDs have been well known as X-ray detectors for spectroscopic imaging in many fields of science: X-Ray Fluorescence analysis (XRF), X-ray Diffraction (XRD) with light sources in large accelerator facilities as well as with laboratory light sources or with X-rays from celestial sources in X-ray astronomy. A brief introduction in GEXRF (Grazing Emission XRF) measurements with a laboratory laser produced plasma source will be given, PIXE (Particle Induced X-ray Emission) measurements and D2XRF (Double Dispersive X-Ray Fluorescence) and Slicing experiments with pnCCDs coupled to polycapillary optics performed at the BESSY synchrotron will be shown. Energy-dispersive Laue diffraction with ultra-hard X-rays for the analysis of defects in metals will conclude the overview of spectroscopic X-ray imaging measurements in the field of structure and dynamics of matter.

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  • Radtke_High_Speed_High_Resolution_Imaging_Spectrometers.pdf
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Autor*innen:L. Strüder, R. Hartmann, P. Holl, S. Ihle, M. Huth, J. Schmidt, Ch. Tham, B. Kanngießer, J. Baumann, A. Renno, J. Grenzer, Martin RadtkeORCiD, A. Abboud, U. Pietsch, H. Soltau
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and Microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Jahrgang/Band:22
Ausgabe/Heft:S3
Erste Seite:100
Letzte Seite:101
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:PnCCD; Synchrotron; XRF
DOI:10.1017/S1431927616001355
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:04.01.2017
Referierte Publikation:Nein
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