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Influence of scattered radiation on the efficiency of dual high-energy X-Ray imaging for material characterization

  • In this contribution, we discuss the influence of scattered radiation on materials’ effective attenuation coefficients at higher X-ray energies. The selected X-ray spectra for the dual-energy experiments correspond to 3 MV and 7.5 MV acceleration potential of the used betatron. Experiments were performed on a test phantom containing step wedges of different low- and high-Z materials. We evaluated the ratio between low- and high-energy X-ray attenuation coefficients quantitatively based on simulated poly-energetic high-energy X-ray source spectra and the detector sensitivity using the “analytical Radiographic Testing inspection simulation tool” (aRTist) developed at BAM. Furthermore, the influence of scattered radiation is evaluated using an efficient Monte-Carlo simulation. The simulation results are compared quantitatively with experimental investigations. Finally, important applications of the proposed technique in the context of aviation security are discussed.

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Autor*innen:Gerd-Rüdiger Jaenisch, Sanjeevareddy Kolkoori, Andreas Deresch
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings of the 19th Wolrd Conference on Nondestructive Testing
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Veröffentlichende Institution:Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Verlag:DGZfP
Verlagsort:Berlin, Germany
Jahrgang/Band:158
Erste Seite:1
Letzte Seite:10
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Dual-energy imaging; Experiments; Monte Carlo methods; Simulation
Veranstaltung:19th World Conference on Nondestructive Testing
Veranstaltungsort:Munich, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:13.06.2016
Enddatum der Veranstaltung:17.06.2016
URN:urn:nbn:de:kobv:b43-365925
ISBN:978-3-940283-78-8
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - Namensnennung-Keine Bearbeitung
Datum der Freischaltung:22.06.2016
Referierte Publikation:Nein
Schriftenreihen ohne Nummerierung:Wissenschaftliche Artikel der BAM
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