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Sophisticated X-Ray Imaging Modalities

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Metadaten
Autor*innen:Gerd-Rüdiger Jaenisch
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Insight
Jahr der Erstveröffentlichung:2002
Verlag:British Institute of Non-Destructive Testing
Verlagsort:Northampton
Jahrgang/Band:44
Ausgabe/Heft:3
Erste Seite:158
Letzte Seite:165
ISSN:0007-1137
Bemerkung:
Geburtsname von Jaenisch, Gerd-Rüdiger: Tillack, G.-R. -  Birth name of Jaenisch, Gerd-Rüdiger: Tillack, G.-R.
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Bibliotheksstandort:ZB 40
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:14.10.2002
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