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First use of data fusion and multivariate analysis of ToF-SIMS and SEM image data for studying deuterium-assisted degradation processes in duplex steels

  • Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) and high-resolution scanning electron microscopy are well-acknowledged tools in materials characterization. The ability to map chemical species on the surface of an investigated sample with often low mass detection limits makes ToF-SIMS an essential tool in fields where many question marks concerning Degradation processes and damage mechanisms exist. The aim of this paper is to describe the power of data fusion of ToF-SIMS and high-resolution scanning electron microscopy results employing computational methods for multivariate data Analysis such as principal component analysis. As a case study the investigation of hydrogen distribution in an artificially charged Duplex stainless steel microstructure is presented aiming on a better understanding of hydrogen embrittlement.

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  • Sobol_et_al-2016-Surface_and_Interface_Analysis.pdf
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Autor*innen:Oded SobolORCiD, Gerald Holzlechner, Markus Holzweber, H. Lohninger, Thomas Böllinghaus, Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):ECASIA special issue paper
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Herausgeber (Institution):Wiley
Verlag:John Wiley & Sons, Ltd
Verlagsort:Surface and Interface Analysis
Jahrgang/Band:48
Ausgabe/Heft:7
Erste Seite:474
Letzte Seite:478
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Data fusion; Duplex stainless steel; HR-SEM; Hydrogen embrittlement; ToF-SIMS
Veranstaltung:16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis
Veranstaltungsort:Granada, Spain
Beginndatum der Veranstaltung:28.09.2015
Enddatum der Veranstaltung:01.10.2015
DOI:10.1002/sia.6015
URL:http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/sia.6015/full
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:12.07.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:05.08.2016
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